Оборудование для исследования структуры вещества

Рентгеновский дифрактометр D8 Advance
Θ/Θ гониометр вертикального типа, адаптированный для установки широкого набора дополнительных оптических компонентов.
Диаметр гониометра 435 - 600 мм.
Щели переменной ширины. Позволяют сохранять неизменной облучаемую поверхность образца.
Диапазон углов сканирования 2Θ: от -110°до 168°
Температурная приставка TTK 450 (- 190 °C. ... +450 °C).
Рентгеновский дифрактометр D8 Advance для качественного и количественного фазового анализа проб; определения размеров областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Определение и уточнение параметров кристаллической решетки. Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду. Определение степени кристалличности полимеров.(ЛФТТ).

Поляризационный микроскоп для лабораторных исследований AxioImager A1m
Увеличение: от 50X до 2000Х.
Ортоскопический и коноскопический режимы наблюдений.
Режим проходящего и отраженного поляризованного света.
Цветная ССD-камера AxioCam MRc (макс. разрешение 1388x1040 пс).
Поляризационно-оптический микроскоп Axio Imager с цифровой видеокамерой предназначен для анализа микроструктуры живых тканей, микроорганизмов, шлифов, тонких пленок и слоев, кристаллов, в том числе для получения микрофотографий и их документирования. Находит применение при проведении исследований структуры и свойств полимерных пленок и тонких слоев жидких кристаллов. Пакеты программного обеспечения KS 300 3.0 и AxioVision для документирования видеоизображений и их цифровой обработки. (ЛФТТ).

Инвертированный микроскоп AxioObserver Z1m
Частично моторизованный управляемый компьютером микроскоп, для работы на увеличениях от 50X до 2000Х для ортоскопических и коноскопических наблюдений в режиме проходящего и отраженного света, с дифференциально- интерференционным и поляризационным контрастом, контрастом по методу светлого и темного поля.
Поляризационно-оптический микроскоп AxioObserver с цифровой видеокамерой высокого разрешения предназначен для анализа микроструктуры живых тканей, микроорганизмов, шлифов, тонких пленок и слоев, кристаллов, в том числе для получения микрофотографий и их документирования. Находит применение при проведении исследований структуры и свойств полимерных пленок и тонких слоев жидких кристаллов. Микроскоп укомплектован микроинтерферометром (TIC) для определения толщин тонких пленок и цифровой камерой высокого разрешения AxioCam HRc (1300х1030) с пакетом программного обеспечения AxioVision для документирования видеоизображений и их цифровой обработки. (ЛФТТ).

Сканирующий мультимикроскоп СММ – 2000Т
Головка микроскопа СММ-2000 со встроенной электроникой.
Встроенный сканер с максимальным полем 15 мкм / 15 мкм с размахом высот до 2 мкм.
Набор держателей образцов, возможные размеры образцов – до 10 мм / 10 мм / 4 мм.
Программа профессионального сканирования, обработки и анализа изображений «Scan Master».
Сканирующий зондовый микроскоп может работать в двух режимах: сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и атомно-силовой микроскопии (АСМ). СТМ – режим, позволяющий работать с электропроводными по поверхности образцами с латеральным разрешением до 3 Ангстрем и вертикальным разрешением до 1 Ангстрема. АСМ - режим, с лазерным датчиком прогиба АСМ – зонда (кантилевера), позволяющий работать с неэлектропроводными жёстко закреплёнными на непористой поверхности объектами в мягкой контактной моде с латеральным разрешением до 30 Ангстрем и вертикальным разрешением до 1 Ангстрема. (ЛФП).

Тензиометр оптический Attension Theta
Диапазон измерения контактного угла:
0 – 180°, разрешение ± 0,1°
Измерение поверхностного натяжения (падающая и лежащая капли) 4 методами. Диапазон измерения 0,01 – 999 мН/м, разрешение 0,01 мН/м.
Температура измерения: до +250°С
Максимальная скорость измерения: 30-60 кадров в секунду (512x480 пс)
Тензиометр оптический Theta для измерения величины углов контакта и поверхностного натяжения, для изучения процессов смачиваемости и адсорбции, чистоты, межфазного натяжения, неоднородности поверхности, межфазной реологии и определения величин свободной поверхностной энергии. C камерой для измерений углов контакта на границе жидкость/жидкость при комнатной температуре (ЛФТТ).

Радиочастотный магнитометр
Определение поля анизотропии, коэрцитивной силы и кривых намагничивания малых образцов магнитных диэлектриков в магнитном поле до 8 КЭ. (ЛАФ).

Магнитооптическая установка на базе микроскопа вертиваль
Исследование статики и динамики доменной структуры в видимой и ИК области спектра в интервале температур 77-500оК (ЛАФ)

Оптический комплекс на базе монохроматоров МДР-12 и МДР-204
Исследование оптических свойств магнитных диэлектриков в условиях воздействия различных полей (ЛАФ)