Об ИФМК УНЦ РАН Информация для сотрудников Объявления
Контакты Новости Документы

Оборудование


Спектрометры

Масс-спектрометры МИ-1201, модернизированные для работы с отрицательными ионами в режиме резонансного захвата электронов
1. Диапазон масс: 1-2000 Да
Разрешение по массам: >1000
Разрешение по энергии: 0,3 эВ (с монохроматором <0,1 эВ)
Верхний диапазон измерения времени жизни: 10 с
Температура напуска твердого образца: до 900 K
(ЛМСОИиСМ).
2. Диапазон масс: до 2000 а.е.м.;
Запись кривых эффективного выхода ионов с разверткой энергии электронного луча (0 – 75 эВ);
Разрешение электронов по энергии до 0,3 эВ,
Калибровка шкалы по пикам SF6¯ (0 эВ) и C6H5¯ (8,0 эВ),
Температура ионизационной камеры может меняться до 200 С, с напуском веществ от газообразных до труднолетучих твердых с температурой возгонки до 200 С.
(гр. ФЭС ЛМСОИиСМ)
3. Для исследования процессов диссоциативного захвата электронов низкой энергии (0-15 эВ), измерении средних времен жизни ОИ относительно автоотщепления (диапазон измерения от 10-5 с до 5•10-3 с)
(ЛМСОИиСМ).
Масс-спектрометр МИ-1201, модернизированный для генерации и регистрации ОИ в режиме резонансного захвата электронов, с разрешением пучка электронов по энергии на полувысоте 0,3 - 0,4 эВ при токе электронов 1 мкА, снабжен трохоидальным электронным монохроматором, позволяющим монокинетизировать электронный пучок до энергетического разрешения 0.06 эВ при токе электронов 1-100 нА. Имеется приставка для измерения среднего времени жизни отрицательных ионов относительно автоотщепления электрона и система прямого ввода образца, позволяющая испарять вещества с температурой сублимации до 900 К.
Хромато-масс-спектрометр "DSQ - Кристалл 5000
Метод ионизации - электронный удар
Диапазон масс - от 1 до 1100 а.е.м.
Диапазон энергий ионизирующих электронов - от 0 до 100 эВ
Температура источника ионов - до 350 °C
Температура переходной линии ГХ-МС - до 400 °C
Разрешение – 1 а.е.м
Аппаратно-программный комплекс на базе хроматографа "Хроматэк - Кристалл 5000" (Хроматэк, г. Йошкар-Ола) с квадрупольным масс-спектрометрическим детектором DSQ (Финниган) используется в лаборатории в штатном режиме электронной ионизации для установления чистоты исследуемых образцов и состава продуктов химического синтеза (ЛМСОИиСМ).
Фотоэлектронный спектрометр ЭС-3201
Оборудованный источником излучения He(I) (21.21 эВ), с калибровкой энергетической шкалы по линиям аргона при 15.76 и 15.94 эВ, с разрешением по энергии 80 мэВ ширины на полувысоте пика Ar+ (2P3/2).
Фотоэлектронный спектрометр позволяет получать спектры ионизации молекул, при удалении электрона с разных энергетических уровней молекулы, что обеспечивает экспериментальной информацией об электронном, а также пространственном строении молекулы в ее основном состоянии. Эти данные необходимы для анализа многих процессов, протекающих с участием молекулы, электронного возбуждения, захвата добавочного электрона и других (гр. ФЭС ЛМСОИиСМ).
Микроволновый спектрометр
Рабочий диапазон частот спектрометра ~6 – 75 ГГц
Чувствительность 10^-10 см-1
Разрешающая способность 100 кГц
Погрешность измерения частот спектральных линий 50 кГц
Температура, при которой исследуется вещество, – комнатная, либо –50C
Микроволновый спектрометр изготовлен в лабораторных условиях на отечественной элементной базе. Имеет молекулярную модуляцию трех типов: по эффекту Штарка, по радиочастотному-микроволновому двойному резонансу и по микроволновому-микроволновому двойному резонансу. Позволяет регистрировать микроволновые спектры полярных молекул (гр. МС ЛМСОИиСМ).
Спектрометр электронного парамагнитного резонанса EMXplus
Х-диапазон (9,4 ГГц)
Магнит 10/12” (до 14,5 кГс)
Температурный диапазон 100 – 500 К
Спектрометр электронного парамагнитного резонанса применяется для изучения атомно-молекулярных систем с ненулевым электронным спиновым магнитным моментом (обладающих одним или несколькими неспаренными электронами): атомов, ионов, свободных радикалов, ион-радикалов в газовой, жидкой и твердой фазах, точечных дефектов в твердых телах, частиц в триплетном состоянии, парамагнитных ионов переходных металлов. (ЛФТТ).
Спектрофотометр Shimadzu UV-3600
Спектральный диапазон: 185-3300 нм
Спектральная ширина щели: 0.1-8 нм
Разрешение: 0.1 нм
Фотометрический диапазон: -6÷6Abs
Двухлучевой спектрофотометр позволяет получать спектры поглощения и пропускания в ультрафиолетовой, видимой и ближней инфракрасной областях. Спектры поглощения позволяют исследовать возбужденные состояния молекул и оптически прозрачных твердых тел. Имеется приставка зеркального отражения (угол отражения 5°) для измерения отражательной способности поверхностей твердых объектов (ЛФТТ).
Спектрофотометр Shimadzu UV-2401 PC
Спектральный диапазон: 190-900 нм
Спектральная ширина щели: 0.1 - 5 нм
Разрешение: 0.1 нм
Фотометрический диапазон: поглощение: 4 - 5 Abs, пропускание: 0 ~999.9% Т
Двухлучевой спектрофотометр позволяет получать спектры поглощения и пропускания в ультрафиолетовой, видимой и ближней инфракрасной областях. Спектры поглощения позволяют исследовать возбужденные состояния молекул и оптически прозрачных твердых тел. Спектрофотометр может быть также использован для определения наличия примесей в известном веществе (гр. ФЭС ЛМСОИиСМ).
Спектрофлуориметр Shimadzu RF-5301 PC
Спектральный диапазон измерения: 190-750 (900) нм
Спектральная ширина щели: 1.5 - 20 нм
Погрешность установки длины волны: ±1.5 нм
Источник излучения: ксеноновая лампа 150 Вт.
Позволяет записывать спектры люминесценции и возбуждения на высокой скорости (до 20000 нм/мин) растворов и твердых тел. Обладает функцией автоматической блокировки возбуждения флуоресценции после проведенных измерений, что позволяет предотвратить разложение флуоресцирующего образца (гр. ФЭС ЛМСОИиСМ).
ИК-фурье спектрометр Tensor 27
Спектральный диапазон: 4000-400 см-1
Спектральное разрешение: 1 см-1
Точность по длинам волн: 0,01 см-1
ИК-фурье спектрометр Tensor 27 предназначен для измерения оптических спектров пропускания, отражения в инфракрасном диапазоне, идентификации и определения концентрации различных химических веществ твердой, жидкой и газообразной фазах. Дополнительные приспособления: Приставка отражения (A513/Q) с изменяемым вручную углом падения луча, 13°-83° (ЛФТТ).

Оборудование для исследования структуры вещества

Рентгеновский дифрактометр D8 Advance
Θ/Θ гониометр вертикального типа, адаптированный для установки широкого набора дополнительных оптических компонентов.
Диаметр гониометра 435 - 600 мм.
Щели переменной ширины. Позволяют сохранять неизменной облучаемую поверхность образца.
Диапазон углов сканирования 2Θ: от -110°до 168°
Температурная приставка TTK 450 (- 190 °C. ... +450 °C).
Рентгеновский дифрактометр D8 Advance для качественного и количественного фазового анализа проб; определения размеров областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Определение и уточнение параметров кристаллической решетки. Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду. Определение степени кристалличности полимеров.(ЛФТТ).
Поляризационный микроскоп для лабораторных исследований AxioImager A1m
Увеличение: от 50X до 2000Х.
Ортоскопический и коноскопический режимы наблюдений.
Режим проходящего и отраженного поляризованного света.
Цветная ССD-камера AxioCam MRc (макс. разрешение 1388x1040 пс).
Поляризационно-оптический микроскоп Axio Imager с цифровой видеокамерой предназначен для анализа микроструктуры живых тканей, микроорганизмов, шлифов, тонких пленок и слоев, кристаллов, в том числе для получения микрофотографий и их документирования. Находит применение при проведении исследований структуры и свойств полимерных пленок и тонких слоев жидких кристаллов. Пакеты программного обеспечения KS 300 3.0 и AxioVision для документирования видеоизображений и их цифровой обработки. (ЛФТТ).
Инвертированный микроскоп AxioObserver Z1m
Частично моторизованный управляемый компьютером микроскоп, для работы на увеличениях от 50X до 2000Х для ортоскопических и коноскопических наблюдений в режиме проходящего и отраженного света, с дифференциально- интерференционным и поляризационным контрастом, контрастом по методу светлого и темного поля.
Поляризационно-оптический микроскоп AxioObserver с цифровой видеокамерой высокого разрешения предназначен для анализа микроструктуры живых тканей, микроорганизмов, шлифов, тонких пленок и слоев, кристаллов, в том числе для получения микрофотографий и их документирования. Находит применение при проведении исследований структуры и свойств полимерных пленок и тонких слоев жидких кристаллов. Микроскоп укомплектован микроинтерферометром (TIC) для определения толщин тонких пленок и цифровой камерой высокого разрешения AxioCam HRc (1300х1030) с пакетом программного обеспечения AxioVision для документирования видеоизображений и их цифровой обработки. (ЛФТТ).
Сканирующий мультимикроскоп СММ – 2000Т
Головка микроскопа СММ-2000 со встроенной электроникой.
Встроенный сканер с максимальным полем 15 мкм / 15 мкм с размахом высот до 2 мкм.
Набор держателей образцов, возможные размеры образцов – до 10 мм / 10 мм / 4 мм.
Программа профессионального сканирования, обработки и анализа изображений «Scan Master».
Сканирующий зондовый микроскоп может работать в двух режимах: сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и атомно-силовой микроскопии (АСМ). СТМ – режим, позволяющий работать с электропроводными по поверхности образцами с латеральным разрешением до 3 Ангстрем и вертикальным разрешением до 1 Ангстрема. АСМ - режим, с лазерным датчиком прогиба АСМ – зонда (кантилевера), позволяющий работать с неэлектропроводными жёстко закреплёнными на непористой поверхности объектами в мягкой контактной моде с латеральным разрешением до 30 Ангстрем и вертикальным разрешением до 1 Ангстрема. (ЛФП).
Тензиометр оптический Attension Theta
Диапазон измерения контактного угла:
0 – 180°, разрешение ± 0,1°
Измерение поверхностного натяжения (падающая и лежащая капли) 4 методами. Диапазон измерения 0,01 – 999 мН/м, разрешение 0,01 мН/м.
Температура измерения: до +250°С
Максимальная скорость измерения: 30-60 кадров в секунду (512x480 пс)
Тензиометр оптический Theta для измерения величины углов контакта и поверхностного натяжения, для изучения процессов смачиваемости и адсорбции, чистоты, межфазного натяжения, неоднородности поверхности, межфазной реологии и определения величин свободной поверхностной энергии. C камерой для измерений углов контакта на границе жидкость/жидкость при комнатной температуре (ЛФТТ).
Радиочастотный магнитометр
Определение поля анизотропии, коэрцитивной силы и кривых намагничивания малых образцов магнитных диэлектриков в магнитном поле до 8 КЭ. (ЛАФ).
Спектрометр магнитоупругих резонансов
Определение спектра частот размерных магнитоупругих резонансов, исследование зависимости эффективности их возбуждения от магнитного состояния образцов (ЛАФ)
Магнитооптическая установка на базе микроскопа вертиваль
Исследование статики и динамики доменной структуры в видимой и ИК области спектра в интервале температур 77-500оК (ЛАФ)
Оптический комплекс на базе монохроматоров МДР-12 и МДР-204
Исследование оптических свойств магнитных диэлектриков в условиях воздействия различных полей (ЛАФ)

© 2009 - 2017 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра Российской академии наук
Яндекс.Метрика